Universidades. II. Autoridades y personal. - B. Oposiciones y concursos. Personal técnico, de gestión y de administración y servicios. (BOE-A-2025-634)
Resolución de 9 de enero de 2025, de la Universidad de Cádiz, por la que se convoca proceso selectivo para la provisión, por el sistema general de acceso libre y promoción interna, de plaza de personal laboral fijo de la categoría de Titulado de Grado Medio de Apoyo a la Docencia e Investigación.
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No ocultamos, cambiamos o tergiversamos la información, simplemente somos un altavoz organizado de los boletines oficiales de España.
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BOLETÍN OFICIAL DEL ESTADO
Miércoles 15 de enero de 2025
Sec. II.B. Pág. 6211
electrónico de barrido. Puesta en funcionamiento de la emisión de electrones y
operaciones básicas de control y mantenimiento del cañón de electrones.
5. Lentes electromagnéticas en el Microscopio electrónico de barrido. Fundamento
y configuración de las lentes. Piezas polares: Tipos, esquema y funciones. Aperturas de
electrones. Tipos de lentes y aperturas en los microscopios electrónicos de barrido: Nova
NanoSEM 450 y de doble haz Sciso2. Operaciones básicas de chequeo y
mantenimiento. Aberraciones en las lentes electromagnéticas: Naturaleza, tipos.
Corrección de aberraciones en el microscopio electrónico de barrido.
6. Sistema de vacío. Tipos de bombas de vacío, características y operaciones
básicas de mantenimiento. Esquema general del sistema de vacío de un microscopio de
barrido. Aspectos particulares del sistema de vacío en los microscopios electrónicos de
barrido Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2. Esquema específico de vacío del
sistema Dual Beam del microscopio Scios2.
7. Interacción electrón-materia. Señales generadas en el proceso de interacción:
Electrones secundarios y electrones retrodispersos: Origen y propiedades fundamentales
de cada señal. Detectores de electrones en un microscopio electrónico de barrido
asociados a cada tipo de señal: Principio de funcionamiento y características. Detectores
de electrones instalados en los microscopios electrónicos de barrido: Nova
NanoSEM 450 y de doble haz Scios2: Características técnicas y funciones. Operaciones
básicas de chequeo y mantenimiento de los detectores de electrones.
8. Formación de imagen e interpretación de imágenes en un microscopio
electrónico de barrido (SEM). Modos de imagen en SEM. Origen de los contrastes en
imágenes obtenidas en SEM: Contraste topográfico y contraste composicional. Contraste
Cristalográfico (ECCI).
9. Difracción de electrones retrodispersados en microscopia electrónica de barrido
(EBSD). Mapas de kikuchi: Origen y características. Mapas de fases y mapas de
orientaciones. Fenómeno de difracción de electrones trasmitidos (Transmission Kikuchi
Difraction TKD) en un microscopio electrónico de barrido. Características del detector de
electrones retrodispersados del microscopio Scios2. Operaciones de chequeo y
mantenimiento.
10. Generación de Rayos X en microscopia electrónica de barrido (SEM).
Espectrómetro de energía dispersiva de rayos X (X-EDS): Principio de funcionamiento y
componentes. Análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X en SEM. Detectores de rayos
X en los microscopios de barrido Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2:
Características técnicas y operaciones básicas de chequeo y mantenimiento.
11. Formación del haz de iones. Características generales del haz de iones en los
sistemas Dual Beam. Fuentes de emisión de iones: Fundamento, especies usadas y
propiedades fundamentales. Fuente de iones Galio y apertura de iones en el microscopio
Scios2. Puesta en funcionamiento de la emisión de iones y operaciones básicas de
control y mantenimiento del cañón de iones. Columna de iones y sistema de lentes en
una columna de haces de iones focalizados. Operaciones de chequeo y mantenimiento.
12. Interacción entre los iones y la materia. Fundamento, mecanismos y modelos
de interacción. Daños causados en un material por la interacción con iones. Señales
generadas tras la interacción iones-materia: Origen de las señales y fundamento.
Detector de electrones en un sistema de haz de iones focalizados. Formación de imagen
en un sistema de haz de iones focalizados. Características e interpretación.
13. Sistemas de Inyección de gases (GIS). Fundamento. Modificación química de
las superficies en un sistema de haces focalizados: Fenómeno de deposición y etching.
Sistema de gases en el microscopio de barrido de doble haz Scios 2. Características
técnicas, tipos y aplicaciones. Operaciones de chequeo y mantenimiento de los sistemas
GIS. Módulo micromanipulador. Especificaciones técnicas del micromanipulador Easylift
del microscopio Scios2. Operaciones básicas de control, puesta a punto, recambio y
calibración del micromanipulador.
cve: BOE-A-2025-634
Verificable en https://www.boe.es
Núm. 13
Miércoles 15 de enero de 2025
Sec. II.B. Pág. 6211
electrónico de barrido. Puesta en funcionamiento de la emisión de electrones y
operaciones básicas de control y mantenimiento del cañón de electrones.
5. Lentes electromagnéticas en el Microscopio electrónico de barrido. Fundamento
y configuración de las lentes. Piezas polares: Tipos, esquema y funciones. Aperturas de
electrones. Tipos de lentes y aperturas en los microscopios electrónicos de barrido: Nova
NanoSEM 450 y de doble haz Sciso2. Operaciones básicas de chequeo y
mantenimiento. Aberraciones en las lentes electromagnéticas: Naturaleza, tipos.
Corrección de aberraciones en el microscopio electrónico de barrido.
6. Sistema de vacío. Tipos de bombas de vacío, características y operaciones
básicas de mantenimiento. Esquema general del sistema de vacío de un microscopio de
barrido. Aspectos particulares del sistema de vacío en los microscopios electrónicos de
barrido Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2. Esquema específico de vacío del
sistema Dual Beam del microscopio Scios2.
7. Interacción electrón-materia. Señales generadas en el proceso de interacción:
Electrones secundarios y electrones retrodispersos: Origen y propiedades fundamentales
de cada señal. Detectores de electrones en un microscopio electrónico de barrido
asociados a cada tipo de señal: Principio de funcionamiento y características. Detectores
de electrones instalados en los microscopios electrónicos de barrido: Nova
NanoSEM 450 y de doble haz Scios2: Características técnicas y funciones. Operaciones
básicas de chequeo y mantenimiento de los detectores de electrones.
8. Formación de imagen e interpretación de imágenes en un microscopio
electrónico de barrido (SEM). Modos de imagen en SEM. Origen de los contrastes en
imágenes obtenidas en SEM: Contraste topográfico y contraste composicional. Contraste
Cristalográfico (ECCI).
9. Difracción de electrones retrodispersados en microscopia electrónica de barrido
(EBSD). Mapas de kikuchi: Origen y características. Mapas de fases y mapas de
orientaciones. Fenómeno de difracción de electrones trasmitidos (Transmission Kikuchi
Difraction TKD) en un microscopio electrónico de barrido. Características del detector de
electrones retrodispersados del microscopio Scios2. Operaciones de chequeo y
mantenimiento.
10. Generación de Rayos X en microscopia electrónica de barrido (SEM).
Espectrómetro de energía dispersiva de rayos X (X-EDS): Principio de funcionamiento y
componentes. Análisis cualitativo y cuantitativo de rayos X en SEM. Detectores de rayos
X en los microscopios de barrido Nova NanoSEM 450 y de doble haz Scios2:
Características técnicas y operaciones básicas de chequeo y mantenimiento.
11. Formación del haz de iones. Características generales del haz de iones en los
sistemas Dual Beam. Fuentes de emisión de iones: Fundamento, especies usadas y
propiedades fundamentales. Fuente de iones Galio y apertura de iones en el microscopio
Scios2. Puesta en funcionamiento de la emisión de iones y operaciones básicas de
control y mantenimiento del cañón de iones. Columna de iones y sistema de lentes en
una columna de haces de iones focalizados. Operaciones de chequeo y mantenimiento.
12. Interacción entre los iones y la materia. Fundamento, mecanismos y modelos
de interacción. Daños causados en un material por la interacción con iones. Señales
generadas tras la interacción iones-materia: Origen de las señales y fundamento.
Detector de electrones en un sistema de haz de iones focalizados. Formación de imagen
en un sistema de haz de iones focalizados. Características e interpretación.
13. Sistemas de Inyección de gases (GIS). Fundamento. Modificación química de
las superficies en un sistema de haces focalizados: Fenómeno de deposición y etching.
Sistema de gases en el microscopio de barrido de doble haz Scios 2. Características
técnicas, tipos y aplicaciones. Operaciones de chequeo y mantenimiento de los sistemas
GIS. Módulo micromanipulador. Especificaciones técnicas del micromanipulador Easylift
del microscopio Scios2. Operaciones básicas de control, puesta a punto, recambio y
calibración del micromanipulador.
cve: BOE-A-2025-634
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Núm. 13
