Universidades. II. Autoridades y personal. - B. Oposiciones y concursos. Personal técnico, de gestión y de administración y servicios. (BOE-A-2025-634)
Resolución de 9 de enero de 2025, de la Universidad de Cádiz, por la que se convoca proceso selectivo para la provisión, por el sistema general de acceso libre y promoción interna, de plaza de personal laboral fijo de la categoría de Titulado de Grado Medio de Apoyo a la Docencia e Investigación.
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No ocultamos, cambiamos o tergiversamos la información, simplemente somos un altavoz organizado de los boletines oficiales de España.
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BOLETÍN OFICIAL DEL ESTADO
Miércoles 15 de enero de 2025
Sec. II.B. Pág. 6212
14. Equipamiento específico módulo Cryomat para el estudio de materiales a
temperatura criogénica. Características técnicas y componentes. Configuración y
montaje del sistema de refrigeración. Operaciones básicas de chequeo y mantenimiento.
Bloque 2: Operación y Análisis de la información
15. Aspectos experimentales de la Microscopía electrónica de barrido. Operaciones
básicas de alineamiento de un microscopio electrónico de barrido en modos de trabajo
de bajo vacío y alto vacío. Procedimiento para el análisis estructural y morfológico
mediante el registro de imágenes de electrones secundarios. Análisis composicional
mediante el registro de imágenes de electrones retrodispersos. Registro de imágenes a
partir de señales generadas durante la interacción de la muestra con el haz de iones.
16. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
electrónico de barrido Nova NanoSEM 450. Registro de imágenes SEM de alta
resolución en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 y modos de
operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio
electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 (Sistema STEM II).
17. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
Scios2. Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio Scios 2 y modos
de operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el
microscopio Scios 2 (Sistema STEM 3+). Aspectos prácticos para el registro de
imágenes de electron channeling contrast (ECCI). Aspectos prácticos del análisis de
estrés residual de materiales en sistemas de haces de iones focalizados mediante la
técnica de correlación de imagen digital (TIC).
18. Microanálisis mediante espectroscopía X-EDS en modo SEM/STEM. Registro
de espectros: Puntuales y de línea. Mapas de distribución elemental. Aspectos prácticos
específicos para el análisis cualitativo con el software Aztec EDS: Registro y análisis de
la información. Aspectos específicos del programa EDAX para microanálisis.
Cuantificación mediante el método ZAF.
19. Procedimiento experimental para el estudio de secciones transversales.
Aspectos prácticos para la toma de imágenes de alta resolución de secciones
transversales. Aspectos prácticos para el análisis composicional mediante X-EDS de una
sección transversal.
20. Preparación convencional de muestras electrón transparentes para microscopía
electrónica de transmisión (TEM) en modo manual para experimentos exsitu e in-situ:
Fabricación de muestras para TEM en holder preinclinado y en holder horizontal.
Preparación de muestras para TEM de materiales sensibles o no conductores. Método
avanzado automatizado de fabricación de muestras para TEM mediante el software
AutoTEM 4: Descripción, configuración y parámetros. Métodos específicos no
convencionales de preparación de muestras para TEM: Planar view, back side y
fabricación de nanopilares. Aspectos prácticos.
21. Registro de patrones de electrones retrodispersados en un microscopio de
barrido. Aspectos prácticos para la obtención de mapas de fase y mapas de
orientaciones mediante la técnica EBSD en el microscopio Scios2: Adquisición y análisis
de datos mediante el Software Aztec EBSD y Aztec Crystal. Registro de patrones de
electrones transmitidos en un microscopio de barrido. Detalles específicos del software
Aztec EBSD para el registro de experimentos de difracción de electrones transmitidos
(TKD).
22. Realización de experimentos de reconstrucción 3D en un microscopio
electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB). Aspectos prácticos
de la preparación de la muestra de manera manual. Aspectos específicos del Software
automatizado AutoSlice and view 4: Descripción, configuración y parámetros.
Realización de experimentos de reconstrucción 3D en sistemas Dual Beam SEM-FIB con
análisis composicional y/o EBSD: Métodos para el análisis 3D composicional y
cristalográfico: Método In situ y Ex situ: Aspectos prácticos y configuración.
cve: BOE-A-2025-634
Verificable en https://www.boe.es
Núm. 13
Miércoles 15 de enero de 2025
Sec. II.B. Pág. 6212
14. Equipamiento específico módulo Cryomat para el estudio de materiales a
temperatura criogénica. Características técnicas y componentes. Configuración y
montaje del sistema de refrigeración. Operaciones básicas de chequeo y mantenimiento.
Bloque 2: Operación y Análisis de la información
15. Aspectos experimentales de la Microscopía electrónica de barrido. Operaciones
básicas de alineamiento de un microscopio electrónico de barrido en modos de trabajo
de bajo vacío y alto vacío. Procedimiento para el análisis estructural y morfológico
mediante el registro de imágenes de electrones secundarios. Análisis composicional
mediante el registro de imágenes de electrones retrodispersos. Registro de imágenes a
partir de señales generadas durante la interacción de la muestra con el haz de iones.
16. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
electrónico de barrido Nova NanoSEM 450. Registro de imágenes SEM de alta
resolución en el microscopio electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 y modos de
operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el microscopio
electrónico de barrido Nova NanoSEM 450 (Sistema STEM II).
17. Aspectos específicos del programa de interfaz de usuario en el microscopio
Scios2. Registro de imágenes SEM de alta resolución en el microscopio Scios 2 y modos
de operación de la columna de electrones. Registro de imágenes STEM en el
microscopio Scios 2 (Sistema STEM 3+). Aspectos prácticos para el registro de
imágenes de electron channeling contrast (ECCI). Aspectos prácticos del análisis de
estrés residual de materiales en sistemas de haces de iones focalizados mediante la
técnica de correlación de imagen digital (TIC).
18. Microanálisis mediante espectroscopía X-EDS en modo SEM/STEM. Registro
de espectros: Puntuales y de línea. Mapas de distribución elemental. Aspectos prácticos
específicos para el análisis cualitativo con el software Aztec EDS: Registro y análisis de
la información. Aspectos específicos del programa EDAX para microanálisis.
Cuantificación mediante el método ZAF.
19. Procedimiento experimental para el estudio de secciones transversales.
Aspectos prácticos para la toma de imágenes de alta resolución de secciones
transversales. Aspectos prácticos para el análisis composicional mediante X-EDS de una
sección transversal.
20. Preparación convencional de muestras electrón transparentes para microscopía
electrónica de transmisión (TEM) en modo manual para experimentos exsitu e in-situ:
Fabricación de muestras para TEM en holder preinclinado y en holder horizontal.
Preparación de muestras para TEM de materiales sensibles o no conductores. Método
avanzado automatizado de fabricación de muestras para TEM mediante el software
AutoTEM 4: Descripción, configuración y parámetros. Métodos específicos no
convencionales de preparación de muestras para TEM: Planar view, back side y
fabricación de nanopilares. Aspectos prácticos.
21. Registro de patrones de electrones retrodispersados en un microscopio de
barrido. Aspectos prácticos para la obtención de mapas de fase y mapas de
orientaciones mediante la técnica EBSD en el microscopio Scios2: Adquisición y análisis
de datos mediante el Software Aztec EBSD y Aztec Crystal. Registro de patrones de
electrones transmitidos en un microscopio de barrido. Detalles específicos del software
Aztec EBSD para el registro de experimentos de difracción de electrones transmitidos
(TKD).
22. Realización de experimentos de reconstrucción 3D en un microscopio
electrónico de barrido de doble haz (Sistemas Dual Beam SEM-FIB). Aspectos prácticos
de la preparación de la muestra de manera manual. Aspectos específicos del Software
automatizado AutoSlice and view 4: Descripción, configuración y parámetros.
Realización de experimentos de reconstrucción 3D en sistemas Dual Beam SEM-FIB con
análisis composicional y/o EBSD: Métodos para el análisis 3D composicional y
cristalográfico: Método In situ y Ex situ: Aspectos prácticos y configuración.
cve: BOE-A-2025-634
Verificable en https://www.boe.es
Núm. 13
