II. Autoridades y personal. - B. Oposiciones y concursos. UNIVERSIDADES. Personal de administración y servicios. (BOE-A-2024-15064)
Resolución de 16 de julio de 2024, de la Universitat de València, por la que se convocan pruebas selectivas de acceso, por el sistema general de acceso libre, a la Escala Técnica Superior de Investigación.
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No ocultamos, cambiamos o tergiversamos la información, simplemente somos un altavoz organizado de los boletines oficiales de España.
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BOLETÍN OFICIAL DEL ESTADO
Lunes 22 de julio de 2024
Sec. II.B. Pág. 93299
30. Técnicas analíticas en la microscopía electrónica de transmisión, IV. Análisis
semicuantitativo y cuantitativo de los espectros de rayos X en el TEM. Medida de la
intensidad. Obtención de patrones. Corrección. Factores ZAF.
31. El microscopio electrónico de barrido (SEM), I. Componentes de la columna de
un SEM. Cañón de electrones. Lentes electromagnéticas en un SEM. Aperturas.
Sistemas correctores del astigmatismo.
32. El microscopio electrónico de barrido (SEM), II. Interacción del haz de
electrones con la muestra y señales en el SEM. Electrones secundarios, electrones
retrodispersados, electrones Auger, catodoluminescencia y otros tipos de señales.
Intervalo y volumen de la excitación primaria.
33. Formación de la imagen en el SEM, I. Composición y topografía en la imagen.
Magnificación. Factores que afectan la resolución de la imagen en el SEM.
34. Formación de la imagen en SEM, II. Detectores de señales. Profundidad de
campo. Resolución y diámetro del fajo de electrones. Procesamiento de las señales.
35. Tipo de imágenes en un SEM. Grabación de las imágenes digitales. Tipo de
detectores.
36. Preparación de muestras de materiales para la observación en el SEM. Tipo de
muestras y su presentación. Polvo. Polímeros. Deposiciones sobre sustratos.
37. Preparación de muestras biológicas para la observación en el SEM, I.
Obtención del material. Fijación. Deshidratación. Proceso de secado en punto crítico.
Proceso de secado a bajas temperaturas.
38. Preparación de muestras biológicas para la observación en el SEM, II. Tipos de
portamuestras. Pegatinas. Recubrimientos: tipo y dispositivos.
39. Técnicas analíticas en el microscopio electrónico de barrido, I. Fundamentos
generales del microanálisis de rayos X de energía dispersiva. Tipos de espectrómetros
de rayos X. Detectores. Procesamiento de las señales. Ventajas y limitaciones del
microanálisis en SEM.
40. Técnicas analíticas en el microscopio electrónico de barrido, II. Preparación de
las muestras para el microanálisis en SEM (especímenes biológicos y otros materiales).
Aplicaciones.
41. Técnicas analíticas en el microscopio electrónico de barrido, III. Análisis
cualitativo de los espectros de rayos X en el SEM. Identificación de picos. Ruido de
fondo. Procesamiento de los resultados. Resolución de los espectros. Mínimo límite de
detección. Factores que afectan los resultados. Presentación de los resultados
cualitativos.
42. Microscopios electrónicos de barrido ambientales y de presión variable.
Adaptaciones de la microscopía de barrido a diferentes condiciones de temperatura de
trabajo. Ensayos dinámicos y mecánicos.
43. Microscopia iónica de barrido (FIB). Tipos de fuentes de iones. Tipos de
especies iónicas. Ventajas y limitaciones de cada fuente de iones. Componentes de la
columna de un FIB. Formación de la fuente y el trímero en un FIB de He+. Lentes
electromagnéticas de un FIB. Aperturas. Fundamentos. Tipos de señales que se
obtienen. Ventajas y limitaciones de la técnica de FIB.
44. Formación de la imagen en un microscopio iónico de barrido. Composición,
topografía y profundidad en la imagen.
45. Aplicaciones FIB. Cortes transversales de diferentes materiales. Modificación
de nanomateriales. Nanolitografía sustractiva y aditiva. Preparación de muestras para
TEM con un Microscopio Dual (SEM/TEM). Análisis in situ de las propiedades eléctricas
de nanomateriales y dispositivos.
46. Haz de iones enfocados. Tipos de cañones de iones. Características y
aplicaciones. Microscopia de iones de Helio (He). Fundamentos. Tipos de señales que se
obtienen. Ventajas y limitaciones de la técnica. Cortes transversales de diferentes
materiales. Sistemas de compensación de cargas y aplicaciones.
47. Procesamiento y análisis de las imágenes. La imagen analógica y la imagen
digital. Conversión analógica-digital. Píxeles y vóxeles. Convenios en el análisis de
cve: BOE-A-2024-15064
Verificable en https://www.boe.es
Núm. 176
Lunes 22 de julio de 2024
Sec. II.B. Pág. 93299
30. Técnicas analíticas en la microscopía electrónica de transmisión, IV. Análisis
semicuantitativo y cuantitativo de los espectros de rayos X en el TEM. Medida de la
intensidad. Obtención de patrones. Corrección. Factores ZAF.
31. El microscopio electrónico de barrido (SEM), I. Componentes de la columna de
un SEM. Cañón de electrones. Lentes electromagnéticas en un SEM. Aperturas.
Sistemas correctores del astigmatismo.
32. El microscopio electrónico de barrido (SEM), II. Interacción del haz de
electrones con la muestra y señales en el SEM. Electrones secundarios, electrones
retrodispersados, electrones Auger, catodoluminescencia y otros tipos de señales.
Intervalo y volumen de la excitación primaria.
33. Formación de la imagen en el SEM, I. Composición y topografía en la imagen.
Magnificación. Factores que afectan la resolución de la imagen en el SEM.
34. Formación de la imagen en SEM, II. Detectores de señales. Profundidad de
campo. Resolución y diámetro del fajo de electrones. Procesamiento de las señales.
35. Tipo de imágenes en un SEM. Grabación de las imágenes digitales. Tipo de
detectores.
36. Preparación de muestras de materiales para la observación en el SEM. Tipo de
muestras y su presentación. Polvo. Polímeros. Deposiciones sobre sustratos.
37. Preparación de muestras biológicas para la observación en el SEM, I.
Obtención del material. Fijación. Deshidratación. Proceso de secado en punto crítico.
Proceso de secado a bajas temperaturas.
38. Preparación de muestras biológicas para la observación en el SEM, II. Tipos de
portamuestras. Pegatinas. Recubrimientos: tipo y dispositivos.
39. Técnicas analíticas en el microscopio electrónico de barrido, I. Fundamentos
generales del microanálisis de rayos X de energía dispersiva. Tipos de espectrómetros
de rayos X. Detectores. Procesamiento de las señales. Ventajas y limitaciones del
microanálisis en SEM.
40. Técnicas analíticas en el microscopio electrónico de barrido, II. Preparación de
las muestras para el microanálisis en SEM (especímenes biológicos y otros materiales).
Aplicaciones.
41. Técnicas analíticas en el microscopio electrónico de barrido, III. Análisis
cualitativo de los espectros de rayos X en el SEM. Identificación de picos. Ruido de
fondo. Procesamiento de los resultados. Resolución de los espectros. Mínimo límite de
detección. Factores que afectan los resultados. Presentación de los resultados
cualitativos.
42. Microscopios electrónicos de barrido ambientales y de presión variable.
Adaptaciones de la microscopía de barrido a diferentes condiciones de temperatura de
trabajo. Ensayos dinámicos y mecánicos.
43. Microscopia iónica de barrido (FIB). Tipos de fuentes de iones. Tipos de
especies iónicas. Ventajas y limitaciones de cada fuente de iones. Componentes de la
columna de un FIB. Formación de la fuente y el trímero en un FIB de He+. Lentes
electromagnéticas de un FIB. Aperturas. Fundamentos. Tipos de señales que se
obtienen. Ventajas y limitaciones de la técnica de FIB.
44. Formación de la imagen en un microscopio iónico de barrido. Composición,
topografía y profundidad en la imagen.
45. Aplicaciones FIB. Cortes transversales de diferentes materiales. Modificación
de nanomateriales. Nanolitografía sustractiva y aditiva. Preparación de muestras para
TEM con un Microscopio Dual (SEM/TEM). Análisis in situ de las propiedades eléctricas
de nanomateriales y dispositivos.
46. Haz de iones enfocados. Tipos de cañones de iones. Características y
aplicaciones. Microscopia de iones de Helio (He). Fundamentos. Tipos de señales que se
obtienen. Ventajas y limitaciones de la técnica. Cortes transversales de diferentes
materiales. Sistemas de compensación de cargas y aplicaciones.
47. Procesamiento y análisis de las imágenes. La imagen analógica y la imagen
digital. Conversión analógica-digital. Píxeles y vóxeles. Convenios en el análisis de
cve: BOE-A-2024-15064
Verificable en https://www.boe.es
Núm. 176
