Autoridades y personal. . (2024/245-34)
Resolución de 12 de diciembre de 2024, de la Universidad de Sevilla, por la que se convocan para su provisión por acceso libre, mediante el sistema de concurso-oposición, plazas vacantes en régimen laboral con carácter fijo, correspondientes a los Grupos II y III del Convenio Colectivo del Personal Laboral de las Universidades Públicas de Andalucía.
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Número 245 - Jueves, 19 de diciembre de 2024
página 55845/23
Tema 4. Tipos de fuentes utilizadas en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
Tubos de rayos X. Partes principales de un tubo de rayos X. Montaje y mantenimiento del
tubo de rayos X.
Tema 5. Espectroscopía de fotoelectrones ultravioleta (UPS): fundamento y
aplicaciones. Nivel de Fermi. Fuentes UV con gas Helio. Radiaciones He-I y He-II.
Tema 6. Analizador hemisférico. Descripción del sistema y componentes principales
del analizador.
Tema 7. Sistemas de vacío: Vacío primario y ultra alto vacío. Tipos de bombas:
Bombas turbomoleculares para sistemas de ultra alto vacío. Bomba de sublimación de
titanio. Detectores de presión para sistemas de ultra alto vacío.
Tema 8. Interrupción y puesta en marcha del sistema ultra alto vacío en los equipos
de XPS. Parada del sistema de vacío y sistema de presurización. Mantenimiento del
sistema en ultra alto vacío. Mantenimiento de las bombas.
Tema 9. Sistema de refrigeración en los equipos de espectroscopía de fotoelectrones.
Chiller, líneas de refrigeración y filtros. Mantenimiento del sistema de refrigeración.
Tema 10. Procedimiento de Bake-Out. Sistemas de calefacción. Desgasificación y
acondicionamiento de las fuentes de rayos X y de UV para equipos XPS y UPS. Alineación
de la fuente y del monocromador para las medidas de XPS.
Tema 11. Calibración y puesta a punto del equipo de espectroscopía de fotoelectrones.
Fundamentos y necesidades. Calibración del detector. Ajuste del parámetro Función de
Trabajo. Calibración del voltaje del detector («Plateau»). Calibración mediante el Nivel de
Fermi con UPS.
Tema 12. Tipos de muestras para análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones
de rayos X. Análisis de la superficie.
Tema 13. Análisis de superficies heterogéneas. Mapeo en distintas zonas de la
superficie y ángulos. Análisis en profundidad. Perfil de desbastado iónico. Decapado
mediante iones argón. Elección de parámetros de desbastado iónico.
Tema 14. Preparación de muestras para análisis de superficie mediante
espectroscopía de fotoelectrones. Preparación de muestras en lámina y en polvo. Tipos
de portamuestra.
Tema 15. Procedimiento de introducción de muestras en un equipo de espectroscopía
de fotoelectrones.
Tema 16. Tratamientos a presión y/o temperatura de las muestras en el equipo de
espectroscopía de fotoelectrones. Sistema de calentamiento por radiación. Medidas en
condiciones estáticas y dinámicas. Fundamentos, ventajas e inconvenientes.
Tema 17. Equipo NAP-XPS. Introducción y fundamentos. Ventajas y desventajas
respecto a los equipos convencionales de XPS. Celda In-situ NAP-XPS. Sistema diodo
láser de calentamiento. Medidas de seguridad.
Tema 18. Condiciones de medida en el equipo NAP-XPS. Sistema de gases,
monitorización de flujos y reacciones. Presiones de trabajo en NAP-XPS. Medidas de
seguridad al trabajar con sistema de presión y ultra-alto vacío combinados.
Tema 19. Principales softwares de análisis de los equipos de espectroscopía
de fotoelectrones. SpecsLab y Prodigy. Ajuste de la Función de Trabajo. Elección y
condiciones de medida de las fuentes de rayos X. Colección de espectros de XPS y
elección de parámetros de medida.
Tema 20. Efecto de carga en las medidas de espectroscopía de fotoelectrones.
Causas y prevención. Efecto de carga en un sistema NAP-XPS. Corrección de espectros.
Tema 21. Análisis de espectros de XPS I. Corrección del espectro. Análisis cualitativo
del espectro general, identificación de los elementos. Asignación de los picos principales
de los elementos, picos de fotoelectrones, los electrones Auger, los posibles satélites y
plasmones. Intensidades relativas y factores de sensibilidad relativa. CASA software.
Tema 22. Análisis de espectros de XPS II. Análisis de alta resolución por rangos de
energía para elementos específicos. Interpretación de los datos.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00312791
BOJA
Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
página 55845/23
Tema 4. Tipos de fuentes utilizadas en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
Tubos de rayos X. Partes principales de un tubo de rayos X. Montaje y mantenimiento del
tubo de rayos X.
Tema 5. Espectroscopía de fotoelectrones ultravioleta (UPS): fundamento y
aplicaciones. Nivel de Fermi. Fuentes UV con gas Helio. Radiaciones He-I y He-II.
Tema 6. Analizador hemisférico. Descripción del sistema y componentes principales
del analizador.
Tema 7. Sistemas de vacío: Vacío primario y ultra alto vacío. Tipos de bombas:
Bombas turbomoleculares para sistemas de ultra alto vacío. Bomba de sublimación de
titanio. Detectores de presión para sistemas de ultra alto vacío.
Tema 8. Interrupción y puesta en marcha del sistema ultra alto vacío en los equipos
de XPS. Parada del sistema de vacío y sistema de presurización. Mantenimiento del
sistema en ultra alto vacío. Mantenimiento de las bombas.
Tema 9. Sistema de refrigeración en los equipos de espectroscopía de fotoelectrones.
Chiller, líneas de refrigeración y filtros. Mantenimiento del sistema de refrigeración.
Tema 10. Procedimiento de Bake-Out. Sistemas de calefacción. Desgasificación y
acondicionamiento de las fuentes de rayos X y de UV para equipos XPS y UPS. Alineación
de la fuente y del monocromador para las medidas de XPS.
Tema 11. Calibración y puesta a punto del equipo de espectroscopía de fotoelectrones.
Fundamentos y necesidades. Calibración del detector. Ajuste del parámetro Función de
Trabajo. Calibración del voltaje del detector («Plateau»). Calibración mediante el Nivel de
Fermi con UPS.
Tema 12. Tipos de muestras para análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones
de rayos X. Análisis de la superficie.
Tema 13. Análisis de superficies heterogéneas. Mapeo en distintas zonas de la
superficie y ángulos. Análisis en profundidad. Perfil de desbastado iónico. Decapado
mediante iones argón. Elección de parámetros de desbastado iónico.
Tema 14. Preparación de muestras para análisis de superficie mediante
espectroscopía de fotoelectrones. Preparación de muestras en lámina y en polvo. Tipos
de portamuestra.
Tema 15. Procedimiento de introducción de muestras en un equipo de espectroscopía
de fotoelectrones.
Tema 16. Tratamientos a presión y/o temperatura de las muestras en el equipo de
espectroscopía de fotoelectrones. Sistema de calentamiento por radiación. Medidas en
condiciones estáticas y dinámicas. Fundamentos, ventajas e inconvenientes.
Tema 17. Equipo NAP-XPS. Introducción y fundamentos. Ventajas y desventajas
respecto a los equipos convencionales de XPS. Celda In-situ NAP-XPS. Sistema diodo
láser de calentamiento. Medidas de seguridad.
Tema 18. Condiciones de medida en el equipo NAP-XPS. Sistema de gases,
monitorización de flujos y reacciones. Presiones de trabajo en NAP-XPS. Medidas de
seguridad al trabajar con sistema de presión y ultra-alto vacío combinados.
Tema 19. Principales softwares de análisis de los equipos de espectroscopía
de fotoelectrones. SpecsLab y Prodigy. Ajuste de la Función de Trabajo. Elección y
condiciones de medida de las fuentes de rayos X. Colección de espectros de XPS y
elección de parámetros de medida.
Tema 20. Efecto de carga en las medidas de espectroscopía de fotoelectrones.
Causas y prevención. Efecto de carga en un sistema NAP-XPS. Corrección de espectros.
Tema 21. Análisis de espectros de XPS I. Corrección del espectro. Análisis cualitativo
del espectro general, identificación de los elementos. Asignación de los picos principales
de los elementos, picos de fotoelectrones, los electrones Auger, los posibles satélites y
plasmones. Intensidades relativas y factores de sensibilidad relativa. CASA software.
Tema 22. Análisis de espectros de XPS II. Análisis de alta resolución por rangos de
energía para elementos específicos. Interpretación de los datos.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00312791
BOJA
Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
