II. Autoridades y personal. - B. Oposiciones y concursos. UNIVERSIDADES. Personal de administración y servicios. (BOE-A-2024-14657)
Resolución de 9 de julio de 2024, de la Universitat de València, por la que se convocan pruebas selectivas de acceso, por el sistema general de acceso libre, a la Escala Técnica Superior de Investigación.
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No ocultamos, cambiamos o tergiversamos la información, simplemente somos un altavoz organizado de los boletines oficiales de España.
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BOLETÍN OFICIAL DEL ESTADO
Miércoles 17 de julio de 2024
Sec. II.B. Pág. 89637
11. Monocromatización de rayos X. Monocromadores primarios y secundarios.
Filtros.
12. Métodos experimentales de difracción de rayos X (I). Método de Laue. Método
de cristal rotatorio.
13. Métodos experimentales de difracción de rayos X (II). Método de polvo
cristalino.
14. Instrumentación de laboratorio de rayos X. Difractómetros en configuraciones
convencionales.
15. Instrumentación de laboratorio de rayos X. Difractómetros en configuraciones
específicas.
16. Alineamiento y ajustes de difractómetros.
17. Mantenimiento de difractómetros.
18. Preparación de muestras de materiales policristalinos. Portamuestras.
Estándares.
19. Adquisición y procesamiento de datos de difracción. Corrección de datos de
absorción y fluorescencia.
20. Fundamentos para la interpretación de un difractograma de polvo cristalino.
Información estructural contenida en el ancho, forma e intensidades relativas de los
picos.
21. Fundamentos para la caracterización de un material policristalino en base a la
posición e intensidad relativa de los picos. Identificación de fases cristalinas por
difracción de rayos X.
22. Bases de datos. Depósito de resultados en bases de datos estructurales: ICSD,
CCDC, PDB. Creación. Historia. Composición.
23. Elaboración y tipos de bases de datos. Interpretación del contenido de fichas
cristalográficas.
24. Análisis cuantitativo.
25. Método de Rietveld.
26. Determinación de tamaño cristalito, orientación preferente y parámetros de red.
27. Software de análisis de datos de difracción de rayos X.
28. Aplicaciones de la difracción de rayos X en la caracterización arcillas.
29. Aplicaciones de la difracción de rayos X en la caracterización de almidones,
polímeros y MOF.
30. Difracción de rayos X a alta temperatura.
31. Difractómetros de alta resolución.
32. Componentes y configuraciones ópticas.
33. Calibración y alineamiento de difractómetros de alta resolución.
34. Obtención de mapa del espacio recíproco y figura de polvo.
35. Caracterización estructural de películas (thin film diffraction). Difracción de
rayos X de incidencia rasante (GIXRD).
36. Principios de la dispersión de los rayos X a bajo ángulo. Teoría.
37. Fuentes de rayos X para bajo ángulo. Detectores 2D. Ajustes y calibración del
detector.
38. Equipos para dispersión de rayos X a bajo ángulo (Small-Angle X-ray
Scattering, SAXS). Set up (longitudinal y vertical).
39. Escala absoluta de intensidades, glassy carbon y patterns.
40. Modelos teóricos en SAXS.
41. Aplicaciones de los modelos teóricos en SAXS.
42. Tipos de muestras analizadas por SAXS. Preparación de muestras para SAXS.
43. Métodos de preparación de muestras líquidas, sólidas y geles. Técnicas y
precauciones.
44. Fundamentos de la caracterización de materiales no-cristalinos con la técnica
SAXS: Aproximación de Guinier, representación Kratky y proceso para la obtención de la
función de distribución de pares. Software.
45. Aplicaciones SAXS en caracterización de nanomateriales.
cve: BOE-A-2024-14657
Verificable en https://www.boe.es
Núm. 172
Miércoles 17 de julio de 2024
Sec. II.B. Pág. 89637
11. Monocromatización de rayos X. Monocromadores primarios y secundarios.
Filtros.
12. Métodos experimentales de difracción de rayos X (I). Método de Laue. Método
de cristal rotatorio.
13. Métodos experimentales de difracción de rayos X (II). Método de polvo
cristalino.
14. Instrumentación de laboratorio de rayos X. Difractómetros en configuraciones
convencionales.
15. Instrumentación de laboratorio de rayos X. Difractómetros en configuraciones
específicas.
16. Alineamiento y ajustes de difractómetros.
17. Mantenimiento de difractómetros.
18. Preparación de muestras de materiales policristalinos. Portamuestras.
Estándares.
19. Adquisición y procesamiento de datos de difracción. Corrección de datos de
absorción y fluorescencia.
20. Fundamentos para la interpretación de un difractograma de polvo cristalino.
Información estructural contenida en el ancho, forma e intensidades relativas de los
picos.
21. Fundamentos para la caracterización de un material policristalino en base a la
posición e intensidad relativa de los picos. Identificación de fases cristalinas por
difracción de rayos X.
22. Bases de datos. Depósito de resultados en bases de datos estructurales: ICSD,
CCDC, PDB. Creación. Historia. Composición.
23. Elaboración y tipos de bases de datos. Interpretación del contenido de fichas
cristalográficas.
24. Análisis cuantitativo.
25. Método de Rietveld.
26. Determinación de tamaño cristalito, orientación preferente y parámetros de red.
27. Software de análisis de datos de difracción de rayos X.
28. Aplicaciones de la difracción de rayos X en la caracterización arcillas.
29. Aplicaciones de la difracción de rayos X en la caracterización de almidones,
polímeros y MOF.
30. Difracción de rayos X a alta temperatura.
31. Difractómetros de alta resolución.
32. Componentes y configuraciones ópticas.
33. Calibración y alineamiento de difractómetros de alta resolución.
34. Obtención de mapa del espacio recíproco y figura de polvo.
35. Caracterización estructural de películas (thin film diffraction). Difracción de
rayos X de incidencia rasante (GIXRD).
36. Principios de la dispersión de los rayos X a bajo ángulo. Teoría.
37. Fuentes de rayos X para bajo ángulo. Detectores 2D. Ajustes y calibración del
detector.
38. Equipos para dispersión de rayos X a bajo ángulo (Small-Angle X-ray
Scattering, SAXS). Set up (longitudinal y vertical).
39. Escala absoluta de intensidades, glassy carbon y patterns.
40. Modelos teóricos en SAXS.
41. Aplicaciones de los modelos teóricos en SAXS.
42. Tipos de muestras analizadas por SAXS. Preparación de muestras para SAXS.
43. Métodos de preparación de muestras líquidas, sólidas y geles. Técnicas y
precauciones.
44. Fundamentos de la caracterización de materiales no-cristalinos con la técnica
SAXS: Aproximación de Guinier, representación Kratky y proceso para la obtención de la
función de distribución de pares. Software.
45. Aplicaciones SAXS en caracterización de nanomateriales.
cve: BOE-A-2024-14657
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Núm. 172
