II. Autoridades y personal. - B. Oposiciones y concursos. UNIVERSIDADES. Personal de administración y servicios. (BOE-A-2022-22387)
Resolución de 9 de diciembre de 2022, de la Universidad de Granada, por la que se convoca proceso selectivo para ingreso, por el sistema general de acceso libre, en la Escala Técnica de Apoyo a la Docencia y a la Investigación, en el marco de estabilización de empleo temporal.
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No ocultamos, cambiamos o tergiversamos la información, simplemente somos un altavoz organizado de los boletines oficiales de España.
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BOLETÍN OFICIAL DEL ESTADO
Núm. 309
Lunes 26 de diciembre de 2022
Sec. II.B. Pág. 183026
Bloque específico
1.
Microscopio de fuerza atómica (AFM):
− Descripción de las partes del microscopio de fuerza atómica.
− Funcionamiento del microscopio de fuerza atómica.
− Plataforma del microscopio de fuerza atómica: XYZ escáneres.
2.
−
−
−
−
3.
−
−
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−
−
4.
Funcionamiento básico del Microscopio de Fuerza Atómica (AFM):
Sensores de fuerza.
Movimiento en Z: Aproximación puntamuestra, frecuencia vibración del cantiléver.
Movimiento XY.
Microscopio óptico acoplado.
Funcionamiento avanzado del Microscopio de fuerza atómica (AFM):
Bucle mecánico (Mechanical loop).
Controlador electrónico: señales, conexión al microscopio.
Feedback y control del circuito.
Generación de la señal de salida: recogida de señales, señales oscilantes.
Entorno del Microscopio de Fuerza atómica.
Instrumentación:
− Generación y monitorización de señales e imágenes.
− Optimización de las condiciones de escaneo.
− Control XYZ.
− Curvas Fd: Parámetros de control y generación, visualización durante escaneo y
exportación.
5.
−
−
−
−
−
6.
Cantilevers y Fuerza:
Constante de fuerza en cantilevers: calibración de la constante de fuerza.
Cantilevers y puntas: Materiales y uso para Modos estáticos y dinámicos.
Daños y desgaste en puntas: Causas y efectos.
Alineamiento óptico.
Selección de parámetros iniciales y aproximación puntamuestra.
Modos de medida:
− Modos estáticos: Aplicaciones del Modo de contacto.
− Modos dinámicos u oscilantes:
● Principios de operación y aplicaciones del Modo de No contacto (NCM).
● Contacto Intermitente: Generación de la señal de fase e imagen de fase.
Modos no topográficos:
− Espectroscopía de fuerzas.
− Medidas y mapeos de propiedades nanomecánicas. Curvas FD. Extracción de
datos cuantitativos y cualitativos.
− Microscopía de Fuerza Lateral (LFM).
− Microscopía de Fuerzas eléctricas (EFM) y AFM conductivo (cAFM). Microscopía
con sonda Kelvin (KPFM/SKPM).
− Microscopía de Fuerzas Magnéticas (MFM).
cve: BOE-A-2022-22387
Verificable en https://www.boe.es
7.
Núm. 309
Lunes 26 de diciembre de 2022
Sec. II.B. Pág. 183026
Bloque específico
1.
Microscopio de fuerza atómica (AFM):
− Descripción de las partes del microscopio de fuerza atómica.
− Funcionamiento del microscopio de fuerza atómica.
− Plataforma del microscopio de fuerza atómica: XYZ escáneres.
2.
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4.
Funcionamiento básico del Microscopio de Fuerza Atómica (AFM):
Sensores de fuerza.
Movimiento en Z: Aproximación puntamuestra, frecuencia vibración del cantiléver.
Movimiento XY.
Microscopio óptico acoplado.
Funcionamiento avanzado del Microscopio de fuerza atómica (AFM):
Bucle mecánico (Mechanical loop).
Controlador electrónico: señales, conexión al microscopio.
Feedback y control del circuito.
Generación de la señal de salida: recogida de señales, señales oscilantes.
Entorno del Microscopio de Fuerza atómica.
Instrumentación:
− Generación y monitorización de señales e imágenes.
− Optimización de las condiciones de escaneo.
− Control XYZ.
− Curvas Fd: Parámetros de control y generación, visualización durante escaneo y
exportación.
5.
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6.
Cantilevers y Fuerza:
Constante de fuerza en cantilevers: calibración de la constante de fuerza.
Cantilevers y puntas: Materiales y uso para Modos estáticos y dinámicos.
Daños y desgaste en puntas: Causas y efectos.
Alineamiento óptico.
Selección de parámetros iniciales y aproximación puntamuestra.
Modos de medida:
− Modos estáticos: Aplicaciones del Modo de contacto.
− Modos dinámicos u oscilantes:
● Principios de operación y aplicaciones del Modo de No contacto (NCM).
● Contacto Intermitente: Generación de la señal de fase e imagen de fase.
Modos no topográficos:
− Espectroscopía de fuerzas.
− Medidas y mapeos de propiedades nanomecánicas. Curvas FD. Extracción de
datos cuantitativos y cualitativos.
− Microscopía de Fuerza Lateral (LFM).
− Microscopía de Fuerzas eléctricas (EFM) y AFM conductivo (cAFM). Microscopía
con sonda Kelvin (KPFM/SKPM).
− Microscopía de Fuerzas Magnéticas (MFM).
cve: BOE-A-2022-22387
Verificable en https://www.boe.es
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