Autoridades y personal. Universidades. (2023/1-12)
Resolución de 23 de diciembre de 2022, de la Universidad de Granada, por la que se convoca proceso selectivo de acceso libre para ingreso en la escala técnica de apoyo a la docencia y a la investigación, puesto de Tecnico/a nivel 4 en la Unidad de Microscopía de Fuerza Atómica del Centro de Instrumentación Científica, en el marco de la estabilización de empleo temporal del personal de Administración y Servicios.
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Número 1 - Martes, 3 de enero de 2023
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2. Funcionamiento básico del Microscopio de Fuerza Atómica (AFM):
- Sensores de fuerza.
- Movimiento en Z: Aproximación puntamuestra, frecuencia vibración del cantiléver.
- Movimiento XY.
- Microscopio óptico acoplado.
3. Funcionamiento avanzado del Microscopio de fuerza atómica (AFM):
- Bucle mecánico (Mechanical loop).
- Controlador electrónico: señales, conexión al microscopio.
- Feedback y control del circuito.
- Generación de la señal de salida: recogida de señales, señales oscilantes.
- Entorno del Microscopio de Fuerza atómica.
4. Instrumentación:
- Generación y monitorización de señales e imágenes.
- Optimización de las condiciones de escaneo.
- Control XYZ.
- Curvas Fd: Parámetros de control y generación, visualización durante escaneo y
exportación.
5. Cantilevers y Fuerza:
- Constante de fuerza en cantilevers: calibración de la constante de fuerza.
- Cantilevers y puntas: Materiales y uso para Modos estáticos y dinámicos.
- Daños y desgaste en puntas: Causas y efectos.
- Alineamiento óptico.
- Selección de parámetros iniciales y aproximación puntamuestra.
6. Modos de medida:
- Modos estáticos: Aplicaciones del Modo de contacto.
- Modos dinámicos u oscilantes:
• Principios de operación y aplicaciones del Modo de No contacto (NCM).
• Contacto Intermitente: Generación de la señal de fase e imagen de fase.
7. Modos no topográficos:
- Espectroscopía de fuerzas.
- Medidas y mapeos de propiedades nanomecánicas. Curvas FD. Extracción de datos
cuantitativos y cualitativos.
- Microscopía de Fuerza Lateral (LFM).
- Microscopía de Fuerzas eléctricas (EFM) y AFM conductivo (cAFM). Microscopía
con sonda Kelvin (KPFM/SKPM).
- Microscopía de Fuerzas Magnéticas (MFM).
8. Preparación de muestras para la observación en el Microscopio de Fuerza Atómica:
- Muestras biológicas: Tratamiento y aplicación en diferentes modos de medida.
- Muestras geológicas: Fijación y análisis en aire y en líquido.
- Procedimientos para deposición de muestras. Dropcasting, spincoater, Molecular
Combing.
- Sustratos para AFM.
9. Medidas de muestras en diferentes ambientes:
- Procedimientos para preparación y uso de Celda de líquidos (ULC).
- Establecimiento de parámetros, aproximación puntamuestra e imágenes con la ULC.
- Preparación de muestras para medidas en líquidos.
10. Procesado de imágenes en AFM:
- Nivelados: tipos, exclusión de puntos o zonas.
- Filtrado.
- Rotación, recorte y escala.
- Corrección de errores: Deglitch.
- Ajustes de histogramas, paletas de color e imágenes tridimensionales.
- Perfiles de altura, rugosidad, análisis de partículas y granos.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00274733
BOJA
Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
página 21570/11
2. Funcionamiento básico del Microscopio de Fuerza Atómica (AFM):
- Sensores de fuerza.
- Movimiento en Z: Aproximación puntamuestra, frecuencia vibración del cantiléver.
- Movimiento XY.
- Microscopio óptico acoplado.
3. Funcionamiento avanzado del Microscopio de fuerza atómica (AFM):
- Bucle mecánico (Mechanical loop).
- Controlador electrónico: señales, conexión al microscopio.
- Feedback y control del circuito.
- Generación de la señal de salida: recogida de señales, señales oscilantes.
- Entorno del Microscopio de Fuerza atómica.
4. Instrumentación:
- Generación y monitorización de señales e imágenes.
- Optimización de las condiciones de escaneo.
- Control XYZ.
- Curvas Fd: Parámetros de control y generación, visualización durante escaneo y
exportación.
5. Cantilevers y Fuerza:
- Constante de fuerza en cantilevers: calibración de la constante de fuerza.
- Cantilevers y puntas: Materiales y uso para Modos estáticos y dinámicos.
- Daños y desgaste en puntas: Causas y efectos.
- Alineamiento óptico.
- Selección de parámetros iniciales y aproximación puntamuestra.
6. Modos de medida:
- Modos estáticos: Aplicaciones del Modo de contacto.
- Modos dinámicos u oscilantes:
• Principios de operación y aplicaciones del Modo de No contacto (NCM).
• Contacto Intermitente: Generación de la señal de fase e imagen de fase.
7. Modos no topográficos:
- Espectroscopía de fuerzas.
- Medidas y mapeos de propiedades nanomecánicas. Curvas FD. Extracción de datos
cuantitativos y cualitativos.
- Microscopía de Fuerza Lateral (LFM).
- Microscopía de Fuerzas eléctricas (EFM) y AFM conductivo (cAFM). Microscopía
con sonda Kelvin (KPFM/SKPM).
- Microscopía de Fuerzas Magnéticas (MFM).
8. Preparación de muestras para la observación en el Microscopio de Fuerza Atómica:
- Muestras biológicas: Tratamiento y aplicación en diferentes modos de medida.
- Muestras geológicas: Fijación y análisis en aire y en líquido.
- Procedimientos para deposición de muestras. Dropcasting, spincoater, Molecular
Combing.
- Sustratos para AFM.
9. Medidas de muestras en diferentes ambientes:
- Procedimientos para preparación y uso de Celda de líquidos (ULC).
- Establecimiento de parámetros, aproximación puntamuestra e imágenes con la ULC.
- Preparación de muestras para medidas en líquidos.
10. Procesado de imágenes en AFM:
- Nivelados: tipos, exclusión de puntos o zonas.
- Filtrado.
- Rotación, recorte y escala.
- Corrección de errores: Deglitch.
- Ajustes de histogramas, paletas de color e imágenes tridimensionales.
- Perfiles de altura, rugosidad, análisis de partículas y granos.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00274733
BOJA
Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
