Autoridades y personal. Universidades. (2022/222-29)
Resolución de 11 de noviembre de 2022, de la Universidad de Sevilla, por la que se convocan para su provisión por acceso libre mediante el sistema de concurso-oposición, plazas vacantes, en régimen laboral con carácter fijo, correspondientes a los Grupos I, II, III y IV del Convenio Colectivo del Personal Laboral de las Universidades Públicas de Andalucía.
132 páginas totales
Página
Número 222 - Viernes, 18 de noviembre de 2022
página 18324/82
materia: absorción, dispersión y difracción. Absorción, discontinuidades de absorción.
Radiación de frenado.
Tema 2. Tubos de Rayos X. Partes principales de un tubo de Rayos X. Montaje y
mantenimiento del tubo de Rayos X. Ánodos de reflexión y transmisión. Microfuentes.
Tema 3. Sistemas de refrigeración para equipos de Rayos X. Diseño de sistemas de
refrigeración adecuados a sistemas concretos de Rayos X. Mantenimiento de sistemas
de refrigeración.
Tema 4. Espectrometría de fluorescencia de Rayos X. Fundamentos. Tipos de
espectrómetros. Espectrómetros por dispersión de longitudes de onda. Tipos de
detectores. Espectrómetros de dispersión de energías. Detectores de estado sólido
y analizadores multicanal. Fluorescencia en reflexión total. Fundamentos, ventajas e
inconvenientes. Preparación de muestras.
Tema 5. Análisis cualitativo y cuantitativo en fluorescencia de rayos X. Uso de rectas
de calibración. Mantenimiento y uso de espectrómetro de fluorescencia de Rayos X.
Tema 6. Microfluorescencia de Rayos X. Mantenimiento de equipo. Medidas
puntuales, medidas lineales, mapeo. Calibración. Aplicaciones industriales.
Tema 7. Cuantificación de espectros de fluorescencia. Modelos más usados para
la corrección del efecto matriz. Coeficientes de influencia, parámetros fundamentales,
corrección por influencia de línea Compton. Correcciones por solapamientos.
Tema 8. Preparación de muestras para fluorescencia de rayos X. Empleo de equipos
auxiliares: perladora, prensa y molino. Preparación de muestras para la medida de
fluorescencia de Rayos X.
Tema 9. Difracción de Rayos X. Fundamentos. La ley de Bragg. El Factor de
Estructura.
Tema 10. El difractómetro de polvo. Fundamentos. Mantenimiento y calibración.
Componentes y distintas configuraciones. Detectores utilizados en los difractómetros de
Rayos X.
Tema 11. Óptica de rayos X. Configuración Bragg-Brentano y Debye Scherrer.
Espejos focalizadores. Monocromadores.
Tema 12. Montaje y preparación de muestras en un difractómetro de Rayos X
convencional. Preparación de muestras en agregado orientado.
Tema 13. Medida de muestras en un difractómetro de polvo. Condiciones de medida.
Creación de métodos de trabajo.
Tema 14. Análisis cualitativo de los resultados de difracción de Rayos X. Identificación
cualitativa de las fases. Sustracción de fondo. Manejo de bases de datos cristalográficas.
Tema 15. Ajuste de difractogramas de polvo. Determinación de tamaño de cristalito.
Ajuste por parámetros fundamentales. Los métodos de Le Bail y Rietveld.
Tema 16. Difracción de Rayos X bajo condiciones controladas. Cámaras de reacción.
Montaje, alineación y mantenimiento. Montaje de muestras en equipos de difracción con
cámaras de temperatura.
Tema 17. Difracción de Rayos X de muestras monocristalinas. Fundamentos. Montaje
de muestras en equipos de difracción de monocristal. Condiciones de medida.
Tema 18. Detectores de rayos X de área. Tipos de detectores, ventajas e
inconvenientes. Corrección del dark field.
Tema 19. Técnicas de imagen con rayos X. Radiografía y tomografía axial
computerizada. Dispositivos de haz cónico: componentes y funcionamiento.
Tema 20. Reconstrucción y análisis 3D. Paquetes de software más extendidos.
Corrección por endurecimiento del haz. Análisis de porosidad. Segmentación.
Tema 21. Mantenimiento de sistemas de rayos X. Mantenimiento de detectores.
Mantenimiento de criosondas. Mantenimiento de tubos sellados y tubos abiertos. Medidas
de seguridad en un laboratorio de rayos X. Supervisión de instalaciones radiactivas.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00271548
BOJA
Boletín Oficial de la Junta de Andalucía
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materia: absorción, dispersión y difracción. Absorción, discontinuidades de absorción.
Radiación de frenado.
Tema 2. Tubos de Rayos X. Partes principales de un tubo de Rayos X. Montaje y
mantenimiento del tubo de Rayos X. Ánodos de reflexión y transmisión. Microfuentes.
Tema 3. Sistemas de refrigeración para equipos de Rayos X. Diseño de sistemas de
refrigeración adecuados a sistemas concretos de Rayos X. Mantenimiento de sistemas
de refrigeración.
Tema 4. Espectrometría de fluorescencia de Rayos X. Fundamentos. Tipos de
espectrómetros. Espectrómetros por dispersión de longitudes de onda. Tipos de
detectores. Espectrómetros de dispersión de energías. Detectores de estado sólido
y analizadores multicanal. Fluorescencia en reflexión total. Fundamentos, ventajas e
inconvenientes. Preparación de muestras.
Tema 5. Análisis cualitativo y cuantitativo en fluorescencia de rayos X. Uso de rectas
de calibración. Mantenimiento y uso de espectrómetro de fluorescencia de Rayos X.
Tema 6. Microfluorescencia de Rayos X. Mantenimiento de equipo. Medidas
puntuales, medidas lineales, mapeo. Calibración. Aplicaciones industriales.
Tema 7. Cuantificación de espectros de fluorescencia. Modelos más usados para
la corrección del efecto matriz. Coeficientes de influencia, parámetros fundamentales,
corrección por influencia de línea Compton. Correcciones por solapamientos.
Tema 8. Preparación de muestras para fluorescencia de rayos X. Empleo de equipos
auxiliares: perladora, prensa y molino. Preparación de muestras para la medida de
fluorescencia de Rayos X.
Tema 9. Difracción de Rayos X. Fundamentos. La ley de Bragg. El Factor de
Estructura.
Tema 10. El difractómetro de polvo. Fundamentos. Mantenimiento y calibración.
Componentes y distintas configuraciones. Detectores utilizados en los difractómetros de
Rayos X.
Tema 11. Óptica de rayos X. Configuración Bragg-Brentano y Debye Scherrer.
Espejos focalizadores. Monocromadores.
Tema 12. Montaje y preparación de muestras en un difractómetro de Rayos X
convencional. Preparación de muestras en agregado orientado.
Tema 13. Medida de muestras en un difractómetro de polvo. Condiciones de medida.
Creación de métodos de trabajo.
Tema 14. Análisis cualitativo de los resultados de difracción de Rayos X. Identificación
cualitativa de las fases. Sustracción de fondo. Manejo de bases de datos cristalográficas.
Tema 15. Ajuste de difractogramas de polvo. Determinación de tamaño de cristalito.
Ajuste por parámetros fundamentales. Los métodos de Le Bail y Rietveld.
Tema 16. Difracción de Rayos X bajo condiciones controladas. Cámaras de reacción.
Montaje, alineación y mantenimiento. Montaje de muestras en equipos de difracción con
cámaras de temperatura.
Tema 17. Difracción de Rayos X de muestras monocristalinas. Fundamentos. Montaje
de muestras en equipos de difracción de monocristal. Condiciones de medida.
Tema 18. Detectores de rayos X de área. Tipos de detectores, ventajas e
inconvenientes. Corrección del dark field.
Tema 19. Técnicas de imagen con rayos X. Radiografía y tomografía axial
computerizada. Dispositivos de haz cónico: componentes y funcionamiento.
Tema 20. Reconstrucción y análisis 3D. Paquetes de software más extendidos.
Corrección por endurecimiento del haz. Análisis de porosidad. Segmentación.
Tema 21. Mantenimiento de sistemas de rayos X. Mantenimiento de detectores.
Mantenimiento de criosondas. Mantenimiento de tubos sellados y tubos abiertos. Medidas
de seguridad en un laboratorio de rayos X. Supervisión de instalaciones radiactivas.
Depósito Legal: SE-410/1979. ISSN: 2253-802X
https://www.juntadeandalucia.es/eboja
00271548
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